光學(xué)膜厚監(jiān)控儀
HOM2 Series
高精度光學(xué)膜厚監(jiān)控儀

是用于鍍制增透膜及各種光學(xué)濾光片的真空鍍膜系統(tǒng)的膜厚控制。
- 特征
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高穩(wěn)定性光纖光學(xué)系統(tǒng)和超低噪音電路設(shè)計,實現(xiàn)+0.001%超低噪音
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測光方式 對應(yīng)透射、反射可選
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運用先進的成膜計算控制技術(shù),光透過率的極值監(jiān)控能力可達+0.05%
- 規(guī)格
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測定區(qū)分
反射式
可視域膜厚計 透過式
可視域膜厚計 反射式
近赤外域膜厚計 透過式
近赤外域膜厚計 -
型號
HOM2-R-
VIS350 HOM2-T-
VIS350 HOM2-R-
IR900 HOM2-T-
IR900 - 波長帶域 350nm ~ 1100nm 900nm ~ 2400nm
- 光源 鹵素?zé)?鹵素?zé)?/span>
- 電源 AC100V±10%, 50/60Hz